杂光系数VGI（Veiling Glare Index）测量仪依据ISO 9358 Optics and optical instruments - Veiling glare of image-forming systems开发，全面符合相关行业标准，可用于测量各种镜头（包括但不限于车载镜头、监控镜头、微光镜头、照相镜头、摄像镜头等）的杂散光对成像质量影响程度的大小。
杂光系数VGI测量仪简介
杂光系数VGI（Veiling Glare Index）测量仪依据ISO 9358 Optics and optical instruments - Veiling glare of image-forming systems开发，全面符合相关行业标准，可用于测量各种镜头（包括但不限于车载镜头、监控镜头、微光镜头、照相镜头、摄像镜头等）的杂散光对成像质量影响程度的大小。
杂光系数VGI测量仪主要由光源模块、镜头调整模块、探测模块、数据采集和处理模块、光环境控制模块、支撑模块和附件等部分组成，其中光源模块、探测模块、数据采集和处理模块是杂光系数测量仪的核心组成部分，如图1所示。
图1 杂光系数VGI测量仪
杂光系数VGI测量仪规格
主要技术指标：
1) 响应波段：320nm～1060nm；
2) 探测器光敏面大小：> 4mm（直径）；
3) 探测带宽：> 33M Hz；
4) 探测下限：< 10nW；
5) 探测精度：优于5%。
杂光系数VGI测量仪案例
图1 杂光系数VGI测量仪
